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半导体制造装备系列(1)-光刻机

尊龙凯时科技 ? 4964 Tags:半导体制造装备光刻机半导体洗濯

半导体制造装备系列(1)-光刻机

光刻机目今对我国的战略意义 ,似乎不亚于大都个世纪前原子弹的战略意义。以至于网络上泛起了诸多类似于“光刻机和原子弹哪个更难造”的讨论。半导体工艺推动了现代社会的科技前进 ,而光刻机则是半导体工业中的“皇冠”。

一、光刻机的原理:

光刻是指光刻胶在特殊波长光线或者电子束的作用下爆发化学转变 ,通事后续曝光、显影、刻蚀等工艺历程 ,将设计在掩膜版上的图形转移到衬底上的图形细腻加工手艺。激光器作为光源发射光束 ,经由光路调解后 ,光束穿透掩膜版及镜片 ,经物镜赔偿光学误差 ,将图形曝光在带有光刻胶的硅晶圆上 ,然后显影在硅片上。

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图1. 光刻机结构示意图

光刻行业的要害定理—瑞利公式:CD=k1*(λ /NA)。CD 为要害尺寸(Critical Dimension) ,λ代表光源波长 ;k1是工艺相关参数 ,一样平常多在0.25到0.4之间 ;NA(Numerical Aperture)被称作数值孔径 ,是光学镜头的一个主要指标 ,一样平常光刻机装备都会明确标注该指标的数值。为了降低 CD ,实现更为细腻的加工尺寸 ,有三种方法:(1) 降低光源的波长λ ;(2) 提高镜头的数值孔径 NA ;(3) 降低综合因素 k1。

光刻机的另外一个主要参数是套刻精度(Overlay Accuracy)。其基本寄义是指前后两道光刻工序之间相互图形的瞄准精度(3σ) ,若是瞄准的误差过大 ,就会直接影响产品的良率。关于高阶的光刻机 ,一样平常装备供应商就套刻精度会提供两个数值 ,一种是单机自身的两次套刻误差 ,另一种是两台装备(差别装备)间的套刻误差。

二、光刻机的分类:

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图2. 光刻机生长历程

光刻机生长至今 ,已履历了5代产品的迭代。在1985年之前 ,第一代光刻机光源以436nm的g-line汞灯光源为主 ,只适用于5μm以上制程 ;之后泛起了365nm的i-line汞灯光源的第二代光刻 ,制程精度来到了350-500nm。第一二代均为接触/靠近式光刻机。第三代为扫描投影式光刻机 ,光源刷新为248nm的KrF氟化氪准分子深紫外光源(DUV:Deep Ultraviolet Light) ,实现了跨越式生长 ,将最小工艺推进至150-250nm ;第四代为步进式投影式光刻机 ,接纳193nm波长的ArF氟化氩准分子激光光源 ,可实现制程推进到了65-130nm ,在此基础上又实现了浸入步进式投影式光刻机(ArFi光刻, i代表immersion):所谓浸入手艺 ,就是让镜头和硅片之间的空间浸泡于液体之中。由于液体的折射率大于1 ,使得激光的现实波长会大幅度缩小。现在主流接纳的纯清水的折射率为1.44 ,以是ArF加浸入手艺现实等效波长=193nm/1.44=134nm ,从而实现更高的区分率。

凭证这个生长思绪 ,那么下面应该就是接纳波长更短的准分子激光器 ,实现更高区分率 ;贔2(氟)准分子激光器成为了潜在选手 ,其波长为157nm。然而F2准分子激光器在叠加浸入式的时间泛起了问题 ,由于在157nm波长下水是不透明的液体 ,无法通过浸入式来进一步降低波长 ,因此需要寻找新的生长偏向。第五代为EUV(Extreme Ultraviolet, 极紫外)光刻机 ,选取了新的计划来进一步提供更短波长的光源。现在主要接纳的步伐是将准分子激光照射在锡等靶材上 ,引发出13.5nm的光子 ,作为光刻机光源。ASML 现在其是全天下唯逐一家能够设计和制造EUV光刻机装备的厂商。

三、光刻机的工业链:

光刻机工业链主要包括上游焦点组件及配套装备、中游光刻机生产及下游光刻机应用三大环节。光刻机手艺极为重大 ,在所有半导体制造装备中手艺含量最高。主要涉及系统集成、细密光学、细密运动、细密物料传输、高精度微情形控制等多项先进手艺 , 生产一台光刻机往往涉及到上千家供应商 ,好比德国的光学装备与超细密仪器 ,美国的计量装备与光源等 , 主要组件包括双事情台、 光源系统、 曝光系统、浸没系统、 物镜系统、光栅系统等 ,配套设施包括光刻胶、掩膜版、涂胶显影等。

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图3. 光刻机工业链

光刻机中最焦点组件是光源和镜头。以ASML为例 ,其镜头供应商为德国蔡司 ,光源供应商为美国 Cymer(已被ASML收购)和日本 Gigaphoton ,其中 EUV 光刻机光源由 Cymer 独家供应。

镜头:当波长抵达EUV波段时 ,绝大大都质料都不具有优异的透射特征 ,DUV类似的透射光学系统将不再适用。因此EUV及以后的更短波长光刻机基本都只能做反射系统。然而 ,现实天下中没有任何质料可以在单层中反射大部分 EUV 光。然而多层则可以增强相互的反射 ,于是业界探讨用这种方法制作相当高效的 EUV 反射镜来缩小和聚焦图像。而由钼(部分反射 EUV 光)和硅(对 EUV 大部分透明)交替纳米层制成的反射镜就成为了各人起劲的偏向。不过 ,这样的EUV 反射镜的制作极其重大 ,由于它们的外貌需要险些完善平滑和清洁 ,每个纳米层都需要具有准确界说的厚度。让每个原子都需要在准确的位置 ,不然可能会丧失光或图像可能会变形。

光源: 所谓EUV极紫外光 ,是指波长在10-100nm规模内的紫外线。然而 ,地球上是没有自然的EUV光源的 ,太阳光谱中的EUV部分会被大气层和臭氧层完全吸收 ,无法抵达地面 ,因此需要人工爆发EUV。人工爆发EUV主要有2个难点:首先 ,EUV 光很难以受控方法爆发。只有多重电离原子内壳中的引发电子才华发射 EUV。其次 ,EUV 光很容易被空气和其他气体吸收。这意味着光从爆发的那一刻到撞击硅片的那一刻 ,都必需穿过高质量的真空。这也意味着不可能构建“EUV 镜头”。相反 ,需要使用高度重大的曲面反射镜。古板的光掩模也会吸收过多的光 ,因此它也需要具有反射性。

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图4. ASML、Nikon、Canon光刻机销售情形

以上是关于半导体制造装备系列(1)-光刻机的相关内容先容了 ,希望能对您有所资助!

想要相识关于芯片半导体洗濯的相关内容 ,请会见我们的“半导体封装洗濯”专题相知趣关产品与应用 !

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