半导体制造流程（七） - 测试

半导体（semiconductor）指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的质料。半导体应用领域很是普遍。从科技或是经济生长的角度来看，半导体的主要性都是很是重大的。大部分的电子产品都和半导体有着极为亲近的关联。常见的半导体质料有硅、锗、砷化镓等，硅是种种半导体质料应用中最具有影响力的一种。

每个半导体产品的制造都需要数百个工艺，整个制造历程分为八个办法：晶圆加工 - 氧化 - 光刻 -刻蚀 - 薄膜沉积 - 互连 - 测试 - 封装。今天小编给各人先容的是半导体制造的第七个办法：测试，希望能对各人有所资助！

半导体制造第七步：测试

测试的主要目的是磨练半导体芯片的质量是否抵达一定标准，从而消除不良产品、并提高芯片的可靠性。另外，经测试有缺陷的产品不会进入封装办法，有助于节约本钱和时间。电子管芯分选 (EDS) 就是一种针对晶圆的测试要领。

EDS 是一种磨练晶圆状态中各芯片的电气特征并由此提升半导体良率的工艺。EDS可分为五步，详细如下：

一、电气参数监控 (EPM)

EPM 是半导体芯片测试的第一步。该办法将对半导体集成电路需要用到的每个器件（包括晶体管、电容器和二极管）举行测试，确保其电气参数达标。EPM 的主要作用是提供测得的电气特征数据，这些数据将被用于提高半导体制造工艺的效率和产品性能（并非检测不良产品）。

二、晶圆老化测试

半导体不良率来自两个方面，即制造缺陷的比率（早期较高）和之后整个生命周期爆发缺陷的比率。晶圆老化测试是指将晶圆置于一定的温度和 AC/DC 电压下举行测试，由此找出其中可能在早期爆发缺陷的产品，也就是说通过发明潜在缺陷来提升最终产品的可靠性。

三、检测

老化测试完成后就需要用探针卡将半导体芯片毗连到测试装置，之后就可以对晶圆举行温度、速率和运动测试以磨练相关半导体功效。详细测试办法的说明请见表格。

四、修补

修补是最主要的测试办法，由于某些不良芯片是可以修复的，只需替换掉其中保存问题的元件即可。

五、点墨

未能通过电气测试的芯片已经在之前几个办法中被分拣出来，但还需要加上标记才华区分它们。已往我们需要用特殊墨水标记有缺陷的芯片，包管它们用肉眼即可识别，现在则是由系统凭证测试数据值自动举行分拣。

以上是关于半导体制造流程（七） - 测试的相关内容，希望能您你有所资助！

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